沖擊試樣投影儀是否滿足GB/T229、AMTS E23標(biāo)準(zhǔn)

       目前檢測(cè)沖擊試樣缺口的方法大多數(shù)都采用間接測(cè)量法“沖擊試樣缺口投影儀"，“沖擊試樣缺口投影儀"測(cè)量方法是：用投影屏標(biāo)準(zhǔn)樣板相應(yīng)尺寸的刻線與缺口根部半徑、缺口角度、缺口深度與被測(cè)試樣缺口進(jìn)行比較測(cè)量。將被測(cè)試樣缺口放在投影儀的工作臺(tái)上，用投影屏標(biāo)準(zhǔn)樣板相應(yīng)尺寸的刻線，標(biāo)準(zhǔn)樣板刻線與被測(cè)試樣缺口進(jìn)行對(duì)比，大于等于小于標(biāo)準(zhǔn)刻度板進(jìn)行判定該標(biāo)準(zhǔn)樣板的相應(yīng)尺寸示值誤差合格，否則判定為不合格。

    GB/T229-2020中對(duì)沖擊試樣缺口尺寸要求如下：

    尺寸類型      標(biāo)準(zhǔn)值      V型缺口允許誤差        U缺口允許誤差

缺口角度：       45°          ±2°                   

    韌帶寬度：       8mm          ±0.075mm         ±0.09mm

    V缺口根部半徑      0.25mm          ±0.025mm              

U缺口根部半徑      1mm                        ±0.07mm

    ASTM E23-2018中對(duì)沖擊試樣缺口尺寸的要求如下：

    尺寸類型        標(biāo)準(zhǔn)值      缺口允許誤差   

缺口角度：         45°          ±1°                   

    韌帶寬度：        8mm         ±0.025mm              

    V缺口根部半徑      0.25mm          ±0.025mm              

沖擊試樣缺口投影儀測(cè)量項(xiàng)目：

              缺口角度

              缺口深度（標(biāo)準(zhǔn)要求測(cè)量韌帶寬度尺寸）

              缺口根部半徑

沖擊試樣缺口投影儀只能對(duì)沖擊試樣缺口的缺口角度、缺口深度個(gè)缺口根部半徑進(jìn)行對(duì)比測(cè)量，而國標(biāo)、美標(biāo)尺寸要求中沒有缺口深度的要求，而對(duì)韌帶寬度有要求。因?yàn)闆_擊試樣缺口投影儀的局限性，無法直接對(duì)韌帶寬度進(jìn)行對(duì)比式測(cè)量，所以大多數(shù)使用者人為缺口深度尺寸在誤差范圍內(nèi)就等于韌帶寬度的尺寸在允許的誤差范圍內(nèi)。這樣的理解是理論下的，也就是說試樣的寬度尺寸絕對(duì)等于10mm，這樣的條件下缺口深度允許誤差可以等于韌帶寬度的允許誤差。可是現(xiàn)實(shí)中試樣加工是有一定的誤差的。如果對(duì)比測(cè)量之前用卡尺對(duì)試樣的寬度先進(jìn)行測(cè)量，然后再用試樣寬度尺寸減去缺口深度尺寸就得到了韌帶寬度尺寸，沖擊試樣缺口投影儀只能對(duì)缺口深度進(jìn)行對(duì)比式測(cè)量，無法得到準(zhǔn)確的缺口深度尺寸，那就無法得到韌帶寬度尺寸了。如果用估計(jì)值，那么卡尺測(cè)量試樣寬度尺寸誤差再加上估計(jì)值的誤差，這樣的疊加誤差有多少，是無法確定的。這樣就無法確定試樣韌帶寬度尺寸誤差是否再允許的范圍內(nèi)。